Akcem : centre d'expertise des matériaux English version             
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Centre d'expertise
des matériaux
et des surfaces

 

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  • Expertises

 

 

Laboratoire certifié
ISO 9001
et
agréé par Safran Aircraft Engines


 

 

      microscopie électronique à balayage (MEB) et analyse X (EDS)
       Microscopie Electronique à Balayage et Analyse X (EDS)

 

microscopie électronique à balayage (MEB)Intérêt particulier : Possibilité de combiner l’analyse et l’observation dans la même échelle atomique ou microscopique.
En mettant en œuvre cette technique, akcem réalise des observations en imagerie haute résolution (contraste topographique ou chimique) et recherche simultanément, de façon qualitative et quantitative, la présence de constituants / contaminants à l’aide de l’analyse X associée.


 

 

profil de concentration

 

 

En complément des analyses X ponctuelles ou globales, la réalisation des profils de concentration et/ou la cartographie X des différents éléments chimiques permet de mettre en évidence les phénomènes de diffusion, de contamination et de migration ...

examen de particule
cartographie X

 

Quelques exemples d’applications :

  • Analyse de particules et détermination de nuances d’acier, type d’alliage, éléments abrasifs ou corrosifs, résidus minéraux ou organiques (peinture, fibres, poussières, dépôts…), aspect des particules (laminé, surchauffé, oxydé, écaillé …) et leur origine probable ;
  • Expertise des faciès de pièces rompues et analyse des avaries (type de rupture, l’origine, …) ;
  • Etude de corrosion sur pièces métalliques après essais climatiques (type de corrosion; inter granulaire, trans- granulaire, par piqûre ou corrosion générale, profondeur affectée…) ;
  • Caractérisation des revêtements métalliques et organiques, mesure d’épaisseurs ;
  • Recherche de défauts ou d’impuretés, d’inclusions ;
  • Caractérisations de soudures (profondeur de pénétration, fissures, zone thermiquement affectée…) ;
  • Expertise de cartes électroniques (pistes conductrices, soudures, isolants,…).
  • Exemple de rapport d'analyse X : cliquez ici

 

 

 

 

 

 

Voir aussi :